數(shù)字式四探針測(cè)試計(jì)/數(shù)字式四探針測(cè)試儀 　型號(hào)：SZB-SX1934

產(chǎn)品點(diǎn)
四探針測(cè)試儀是根據(jù)單晶硅物理測(cè)試方法家標(biāo)準(zhǔn)并參考美A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)*的半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻（薄層電阻）測(cè)試用儀器。
儀器以大規(guī)模集成電路為核心件，采用旋扭式開(kāi)關(guān)控制，及各種作狀態(tài)LED示。應(yīng)用微計(jì)算機(jī)術(shù)，使得測(cè)量讀數(shù)更加直觀、快速。整套儀器體積小、耗低、測(cè)量精度、測(cè)試速度快、穩(wěn)定性好、易操作。